在線光譜測系統-應用於鋁鍍膜

鋁制保護膜，包括氧化鋁、其他鋁鍍膜及含特性的保護膜等，生產時品質必須受控，保證該薄膜面可符合各種國際規定的功能標淮。在連續生產過程中，要測試樣品，可用抽檢方式或在線測量。跟據這鍍層車間的檢查數據的回歸，可以快速執行相應操施，例如重置機器操作設定，減少成本（包括品質及材料消耗） 。但這量度程序只適用于透明層料，不適用于廣泛四散層面。

鋁帶或鋁片的鍍層是以反射光測量，白光干涉由反射信號產生。此光學鍍層厚度是應用FFT 式運算法則，結果非?？煽?。而這幾何光學層厚測量是決定于光學、幾何厚度及折射值功能 n=f （波長）之間的關系。 數值結果有很高的重復性及優良準確。由于蔡司使用了優良的光學配件及高熱量穩定的二極管陣列式的多色儀。薄層厚度在 <500nm 間都可以測量，軟件可執行校準及自動控制。這些方法亦可應用于其他鍍層產品。

系統

蔡司提供兩種測量方法：一是帶光纖線的MCS600 系統；另一種是下帶光纖線的CORONA 系統。兩者都是二極管陣列式的多色儀、多通道式設計，波長分辨率分別為0.8nm/pixel 及3.3nm/pixel，連接插頭有RS422、4-20mA、RS232 及RS485。激發輸入及輸出點皆可選用，系統以電腦操作，多臺光譜儀可疊層連接，以一臺電腦操作，因此可見及NIR 光譜可同時出現於顯示器上。

軟件

一個可選購配置的軟件 ASPECT PLUS Windows 基本軟件 （支援 Windows 軟件） ，可配合鍍層厚度插入軟件使用。若有特別需要，我們可以為編寫其應用軟件，以 LabVIEW 編寫。DLLs 的 C++ 和 LabVIEW 驅動程式容許客戶編寫自已程式，與我們的測量系統完全配合。

優點

• 快速及高精度量度

• 極高的鍍層厚度重復性

• 已確識及測試的測量技術

• 高可靠性及低維修要求，這由于沒有可移動部件

• 容易使用軟件

• 快速提供詳細光譜資料

• 富彈性安裝，可使用光纖連接或無光纖技術及一系列配件

• 可分別量度幾個不同點，配光纖多路器或穿越器

• 可直接用穿越器與無光纖系統聯系

規格

• 波長范圍 200–1020nm （900–1700nm 選配或層疊）

• 波長清晰度 0.8nm/Diode （2.4 nm Raleigh） / 3.3nm/diode （10nm Raleigh）

• 波長重復性 <0,05 nm

• PC 介面 CORONA 可選用RS 422; RS 232 res. RS 485

• PC 與系統距離 基本電線可延伸至 80 m, 使用光導傳送可延伸至 2.5km

• 光纖石英，600μm 蕊，SMA 連接

• 架 19" 箱或19" 架；19" 保護箱；Corona （無光纖）鐵箱